Oprema
Jeol JSM-5800
- SE, BE detektorja
- Oxford Instruments ISIS 300 EDS
- Digitalno zajemanje posnetkov
Odseki: K5, K6, K7, K8, K9
Jeol JXA-840A
- SE, BE detektorja
- Tracor TN 5600 EDS
- 2 WDS spektrometra
- Digitalno zajemanje posnetkov
Odseki: K5, K6, K7, K8, K9
Jeol JSM-7600F
- In-Lens Thermal FEG
- SE, LEI detektorja
- BE detektor
- INCA Oxford 350 EDS SDD
- INCA Wave 500 spektrometer
- XENOS XeDraw 2 e-litografija
- EBSD, Channel 5, Oxford Instruments
- Vgrajen r-filter za kombinacijo SE in BE signala
Odseki: K5, K6, K7, K8, K9, F2, F3, F4, F5, F7, NTF, FKKT, CO NAMASTE
Jeol JEM-2000 FX
- LINK AN 10000 EDS
- Gatan TV camera
- STEM unit
- Cooling, heating holders
Odseki: K5, K6, K7, K8, K9
Jeol JEM-2100
- JED 2300 EDS
- Gatan CCD kamera ORIUS
- Analitski nosilci (double tilt)
- Nosilci za hlajenje in segrevanje (double tilt)
CO NiN (odseki: K5, K6, K7, K8, K9, F4, F5, F7, B)
Jeol JEM-2010F
- FEG izvor elektronov
- STEM enota
- BF, DF STEM detektorja
- ADF /HAADF STEM detektor ( Jeol YDF)
- Oxford Instruments ISIS 300 EDS
- Gatan PEELS 677
- Gatan CCD kamera SC1000B
- Analitski nosilci (double tilt)
- Nosilci za hlajenje in segrevanje (double tilt)
Odseki: K5, K6, K7, K8, K9, F5, F7, CO NAMASTE
Priprava vzorcev za SEM
- Sistem za naprševanje in jedkanje za SEM, TEM and LM (Gatan, Model 682 PECS)
- Naprševalnik BAL-TEC SCD 005
Priprava vzorcev za TEM
- Ionsko jedkanje (Gatan, Model 691 PIPS)
- Ionsko jedkanje BAL-TEC RES 100
- Mehansko poliranje Allied MultiPrep System
PIPS:
Odseki: K5, K6, K7, K8, K9, F3, F4, F5, F7
BAL-TEC:
Odseki: K5, K6, K7, K8, K9
Priprava vzorcev za TEM
- Ionsko jedkanje Gentle Mill (Technoorg LINDA)
Odsek: K7
